انتخاب زبان

یادگیری ماشین برای شناسایی پارامترهای سیم‌پیچ در سیستم‌های انتقال توان القایی فرکانس‌بالا

یک رویکرد نوین با استفاده از شبکه‌های عصبی کانولوشنی برای شناسایی سریع اندوکتانس (L) و ضریب کیفیت (Q) سیم‌پیچ‌ها از روی تصاویر، حذف نیاز به تجهیزات اندازه‌گیری حجیم.
wuxianchong.com | PDF Size: 1.7 MB
امتیاز: 4.5/5
امتیاز شما
شما قبلاً به این سند امتیاز داده اید
جلد سند PDF - یادگیری ماشین برای شناسایی پارامترهای سیم‌پیچ در سیستم‌های انتقال توان القایی فرکانس‌بالا

1. مقدمه

انتقال توان القایی فرکانس‌بالا (IPT) یک فناوری کلیدی برای شارژ بی‌سیم است که مزایایی مانند افزایش فاصله انتقال و کاهش اندازه سیستم را ارائه می‌دهد. عملکرد این سیستم‌ها به‌طور بحرانی به اندوکتانس (L) و ضریب کیفیت (Q) سیم‌پیچ‌های فرستنده و گیرنده وابسته است. روش‌های اندازه‌گیری سنتی با استفاده از آنالایزرهای امپدانس یا شبکه، گران‌قیمت، حجیم و برای محصولات مهر و موم شده غیرعملی هستند. رویکردهای مبتنی بر شبیه‌سازی، اگرچه مفیدند، در فرکانس‌های بسیار بالا یا برای هندسه‌های پیچیده سیم‌پیچ به دلیل اثرات پوستی و مجاورتی، از نظر محاسباتی غیرممکن می‌شوند.

این مقاله یک راه‌حل یادگیری ماشین (ML) را برای این مسئله شناسایی پیشگام می‌کند. با ورود دادن تنها یک تصویر از سیم‌پیچ و فرکانس کاری آن به یک مدل آموزش‌دیده، سیستم می‌تواند مقادیر L و Q را به سرعت و با دقت پیش‌بینی کند. این روش قابل حمل، غیرتهاجمی است و نیاز به سخت‌افزار پرهزینه یا جداسازی را از بین می‌برد.

2. سیستم انتقال توان القایی فرکانس‌بالا

این بخش ساختار اساسی سیستم‌های IPT را ترسیم کرده و نقش حیاتی پارامترهای سیم‌پیچ را تحلیل می‌کند.

2.1 توپولوژی پایه سیستم IPT

یک سیستم IPT معمولی شامل یک اینورتر، شبکه‌های جبرانسازی اولیه و ثانویه، و سیم‌پیچ‌های فرستنده (Ltx) و گیرنده (Lrx) با کوپل سست است. اینورتر یک جریان AC فرکانس‌بالا تولید می‌کند که توسط شبکه جبرانسازی اولیه تنظیم شده و سپس از Ltx عبور می‌کند. انرژی به صورت بی‌سیم به Lrx منتقل شده و سپس توسط شبکه ثانویه برای تحویل به بار تنظیم می‌شود.

2.2 تأثیر L و Q بر عملکرد سیستم

اندوکتانس L فرکانس تشدید و ویژگی‌های کوپلینگ را تعیین می‌کند، در حالی که ضریب کیفیت Q که به صورت $Q = \frac{\omega L}{R}$ تعریف می‌شود (که در آن $\omega$ فرکانس زاویه‌ای و $R$ مقاومت سری معادل است)، به طور مستقیم بر بازده سیستم و توانایی دستیابی به کلیدزنی ولتاژ صفر (ZVS) تأثیر می‌گذارد. Q بالا برای حداقل کردن تلفات، به ویژه در محدوده فرکانس مگاهرتز، ضروری است. یک نمونه اولیه آزمایشی در فرکانس ۶.۷۸ مگاهرتز برای مطالعه این اثرات ایجاد شد.

3. روش‌شناسی یادگیری ماشین پیشنهادی

نوآوری اصلی، کاربرد یک شبکه عصبی کانولوشنی (CNN) برای رگرسیون پارامترهای بصری است.

3.1 معماری مدل: شبکه عصبی کانولوشنی

یک معماری CNN به دلیل اثربخشی اثبات شده آن در استخراج ویژگی‌های فضایی از تصاویر انتخاب شد. مدل یک تصویر سیم‌پیچ و فرکانس کاری را به عنوان ورودی می‌گیرد. تصویر از طریق لایه‌های کانولوشنی برای استخراج ویژگی (لبه‌ها، شکل‌ها، دورها) عبور می‌کند، سپس لایه‌های پولینگ و لایه‌های کاملاً متصل قرار دارند که داده فرکانس را برای رگرسیون مقادیر نهایی L و Q ادغام می‌کنند.

3.2 ترکیب مجموعه داده و آموزش

یک مجموعه داده متنوع برای استحکام مدل حیاتی بود. این مجموعه شامل تصاویر سیم‌پیچ‌های با و بدون هسته فرومغناطیسی، سیم‌پیچ‌های با سیم‌های تحریک با ضخامت‌های مختلف، و سیم‌پیچ‌های با شکل‌های متفاوت (مانند مارپیچی، سولنوئیدی) بود. این تنوع اطمینان می‌دهد که مدل می‌تواند در طیف گسترده‌ای از طراحی‌های سیم‌پیچ دنیای واقعی تعمیم یابد.

4. نتایج تجربی و عملکرد

معیار عملکرد کلیدی

نرخ خطای شناسایی: ۲۱.۶٪

این نرخ خطا نشان‌دهنده عملکرد مدل در پیش‌بینی مقادیر L و Q در سراسر مجموعه داده آزمایشی است. اگرچه کامل نیست، اما یک اثبات مفهوم قابل توجه را نشان می‌دهد و جایگزینی سریع و کم‌هزینه برای روش‌های سنتی ارائه می‌دهد. خطا احتمالاً به دلیل محدودیت‌ها در اندازه مجموعه داده، وضوح تصویر و پیچیدگی ذاتی نگاشت ویژگی‌های بصری به پارامترهای الکتریکی دقیق است.

توضیح نمودار: اگرچه به صراحت در متن ارائه شده توضیح داده نشده است، یک بخش نتایج معمولی شامل نمودارهایی مانند موارد زیر خواهد بود: ۱) نمودار پراکندگی L پیش‌بینی شده در مقابل L اندازه‌گیری شده، که همبستگی و توزیع خطا را نشان می‌دهد. ۲) نمودار مشابه برای Q پیش‌بینی شده در مقابل Q اندازه‌گیری شده. ۳) نمودار میله‌ای مقایسه زمان صرف شده برای شناسایی ML در مقابل شبیه‌سازی (مانند HFSS) یا اندازه‌گیری فیزیکی، که بر مزیت سرعت رویکرد ML تأکید می‌کند.

5. جزئیات فنی و فرمول‌بندی ریاضی

مسئله به عنوان یک کار رگرسیون نظارت‌شده قاب‌بندی شده است. مدل یک تابع $f$ را یاد می‌گیرد که ویژگی‌های ورودی را به پارامترهای هدف نگاشت می‌دهد:

$[\hat{L}, \hat{Q}] = f(I_{coil}, f_{operation}; \theta)$

که در آن $I_{coil}$ تانسور تصویر سیم‌پیچ، $f_{operation}$ فرکانس کاری، $\theta$ پارامترهای قابل آموزش (وزن‌ها و بایاس‌ها) شبکه CNN را نشان می‌دهد، و $\hat{L}, \hat{Q}$ مقادیر پیش‌بینی شده هستند.

تابع زیان مورد استفاده در طول آموزش معمولاً یک خطای میانگین مربعات (MSE) یا خطای میانگین مطلق (MAE) بین پیش‌بینی‌ها و مقادیر واقعی به دست آمده از اندازه‌گیری‌های سنتی است:

$\mathcal{L}(\theta) = \frac{1}{N} \sum_{i=1}^{N} \left( (L_i - \hat{L}_i)^2 + \alpha (Q_i - \hat{Q}_i)^2 \right)$

که در آن $N$ اندازه دسته و $\alpha$ یک عامل وزنی برای متعادل کردن تفاوت مقیاس بین L و Q است.

6. چارچوب تحلیل و مثال موردی

چارچوب تحلیل غیرکدی: یک سناریوی کنترل کیفیت در خط تولید شارژر بی‌سیم را در نظر بگیرید.

  1. اکتساب داده: یک دوربین از بالا تصویری از پد شارژ مهر و موم شده نهایی که حاوی سیم‌پیچ فرستنده است، ثبت می‌کند.
  2. پیش‌پردازش: تصویر برش داده شده، نرمال‌سازی شده و اندازه آن برای مطابقت با ابعاد ورودی CNN تغییر می‌کند. فرکانس کاری شناخته شده (مثلاً ۶.۷۸ مگاهرتز برای استاندارد Qi) به عنوان یک ویژگی عددی اضافه می‌شود.
  3. استنتاج: داده پیش‌پردازش شده به مدل CNN آموزش‌دیده وارد می‌شود.
  4. تصمیم‌گیری: مدل مقادیر L و Q پیش‌بینی شده را خروجی می‌دهد. این مقادیر با محدوده‌های تحمل قابل قبول تعریف شده توسط مشخصات محصول مقایسه می‌شوند.
  5. اقدام: اگر پارامترهای پیش‌بینی شده در محدوده تحمل باشند، واحد قبول می‌شود. اگر خارج از محدوده تحمل باشند (که نشان‌دهنده یک نقص احتمالی ساخت مانند دور اتصال کوتاه شده یا اتصال لحیم ضعیف است)، واحد برای بازرسی بیشتر یا رد شدن علامت‌گذاری می‌شود.

این چارچوب یک آزمون الکتریکی پیچیده را به یک بازرسی بصری ساده تبدیل می‌کند و زمان و هزینه آزمایش را به شدت کاهش می‌دهد.

7. چشم‌انداز کاربردی و جهت‌های آینده

  • هوش مصنوعی روی دستگاه و لبه: استقرار نسخه‌های سبک‌وزن مدل روی تلفن‌های هوشمند یا سیستم‌های تعبیه‌شده برای تکنسین‌های میدانی برای تشخیص سلامت سیم‌پیچ در ایستگاه‌های شارژ خودروهای الکتریکی یا تجهیزات صنعتی.
  • ادغام طراحی مولد: جفت کردن مدل شناسایی با شبکه‌های مولد تخاصمی (GANs)، مشابه در مفهوم با CycleGAN برای ترجمه تصویر به تصویر، نه تنها برای شناسایی پارامترها، بلکه برای پیشنهاد تنظیمات بهینه هندسه سیم‌پیچ برای دستیابی به مقادیر مطلوب L و Q.
  • یادگیری چندوجهی: بهبود مدل با گنجاندن داده‌های حسگر اضافی (مانند تصاویر حرارتی از دوربین IR برای تخمین تلفات) در کنار داده‌های بصری برای پیش‌بینی پارامتر دقیق‌تر و مستحکم‌تر.
  • استانداردسازی و پایگاه داده: ایجاد مجموعه‌داده‌های بزرگ و متن‌باز از تصاویر سیم‌پیچ جفت شده با پارامترهای اندازه‌گیری شده برای تسریع تحقیق و بهبود دقت مدل، مشابه ImageNet برای بینایی کامپیوتر.
  • مجموعه پارامتر گسترش‌یافته: گسترش مدل برای پیش‌بینی پارامترهای اضافی مانند اندوکتانس متقابل (M) از تصاویر هر دو سیم‌پیچ فرستنده و گیرنده با هم، یا تخمین ظرفیت خازنی پارازیتی.

8. مراجع

  1. Kurs, A. et al. (2007). Wireless power transfer via strongly coupled magnetic resonances. Science.
  2. Sample, A. P., Meyer, D. A., & Smith, J. R. (2011). Analysis, experimental results, and range adaptation of magnetically coupled resonators for wireless power transfer. IEEE Transactions on Industrial Electronics.
  3. Zhu, Q., Wang, L., & Liao, C. (2019). Compensated Topology of Inductive Power Transfer for Improving Misalignment Performance. IEEE Transactions on Power Electronics.
  4. Goodfellow, I., Bengio, Y., & Courville, A. (2016). Deep Learning. MIT Press. (برای مبانی CNN).
  5. Zhu, J.-Y., Park, T., Isola, P., & Efros, A. A. (2017). Unpaired Image-to-Image Translation using Cycle-Consistent Adversarial Networks. IEEE International Conference on Computer Vision (ICCV). (مرجع CycleGAN).
  6. ANSYS HFSS. (n.d.). High Frequency Structure Simulator. Retrieved from ansys.com.

9. تحلیل اصیل و تفسیر کارشناسی

بینش اصلی

این مقاله فقط درباره اندازه‌گیری سیم‌پیچ‌ها نیست؛ بلکه یک چرخش استراتژیک از اولویت فیزیک به اولویت داده در طراحی و اعتبارسنجی الکترونیک قدرت است. نویسندگان به درستی شناسایی می‌کنند که گلوگاه در IPT فرکانس‌بالا، درک نظری نیست، بلکه استخراج عملی پارامترها است. با برخورد با سیم‌پیچ به عنوان یک الگوی بصری به جای یک مسئله مقدار مرزی الکترومغناطیسی، آن‌ها از استبداد محاسباتی معادلات ماکسول در فرکانس‌های مگاهرتز عبور می‌کنند. این یادآور نحوه عبور بینایی کامپیوتر از مهندسی ویژگی صریح است. خطای ۲۱.۶٪ یک ضعف نیست—بهای ورود به یک پارادایم است که وعده کاهش زمان و هزینه آزمایش به اندازه یک مرتبه بزرگی را می‌دهد.

جریان منطقی

استدلال به طور قانع‌کننده‌ای خطی است: ۱) IPT فرکانس‌بالا حیاتی اما سخت برای توصیف است. ۲) ابزارهای موجود (آنالایزرها، شبیه‌سازها) یا گران، یا کند، یا تهاجمی هستند. ۳) بنابراین، ما به یک روش جدید و چابک نیاز داریم. ۴) یادگیری ماشین، به ویژه CNNهای اثبات شده روی ImageNet، راهی ارائه می‌دهد. ۵) این مدل و مجموعه داده اثبات مفهوم ما است. ۶) با خطای معقول کار می‌کند. منطق محکم است، اما جهش از «تصویر» به «اندوکتانس» نادیده گرفته شده است. مدل اساساً در حال یادگیری یک پروکسی غیرخطی بسیار بالا برای شبیه‌سازی الکترومغناطیسی است—یک رویکرد جذاب اما جعبه سیاه که سنت‌گرایان را به تردید می‌اندازد.

نقاط قوت و ضعف

نقاط قوت: کاربردی بودن آن انکارناپذیر است. این روش از نظر مفهومی به طرز درخشانی ساده است—فقط یک عکس بگیرید. استفاده از یک مجموعه داده متنوع (با/بدون هسته، شکل‌های مختلف) بینش خوبی برای تعمیم نشان می‌دهد. همسو با روند یادگیری ماشین آگاه از فیزیک، آن‌ها فرکانس کاری را به عنوان یک ورودی مستقیم گنجانده‌اند و دانش دامنه حیاتی را به مدل تزریق می‌کنند.

نقاط ضعف: نرخ خطای ۲۱.۶٪، اگرچه یک شروع است، برای کاربردهای دقیق آماده تولید نیست. مقاله در مورد تجزیه خطا سکوت کرده است—آیا خطا در L است یا Q؟ آیا ثابت است یا به طور فاجعه‌باری روی انواع خاصی از سیم‌پیچ‌ها شکست می‌خورد؟ ورودی «تصویر» مبهم است—چه وضوحی، نورپردازی، زاویه؟ همانند بسیاری از کاربردهای ML، عملکرد مدل به داده آموزش آن زنجیر شده است. احتمالاً روی هندسه‌ها یا مواد سیم‌پیچی که در مجموعه داده آن نمایندگی نشده‌اند شکست خواهد خورد، محدودیتی که شبیه‌سازهای فیزیک بنیادی مانند ANSYS HFSS با آن مواجه نیستند. همچنین هیچ بحثی درباره کمّی‌سازی عدم قطعیت—نیازی بحرانی برای تصمیم‌گیری‌های مهندسی—وجود ندارد.

بینش‌های قابل اجرا

برای محققان: روی مدل‌های ترکیبی تمرکز کنید. فقط از یک CNN خالص استفاده نکنید. از آن برای پیش‌بینی پارامترهای هندسه اولیه (تعداد دور، قطر) استفاده کنید، سپس آن‌ها را به یک مدل تحلیلی سریع و ساده‌شده (مثلاً بر اساس فرمول‌های Wheeler) وارد کنید تا L و Q را محاسبه کند. این قابلیت تفسیر و محدودیت‌های فیزیک را اضافه می‌کند. برای صنعت: این روش را برای آزمایش کیفیت قبول/رد راه‌اندازی کنید، نه برای طراحی دقیق. صرفه‌جویی در هزینه از غربالگری سریع واحدهای معیوب حتی با نرخ خطای فعلی، سرمایه‌گذاری را توجیه خواهد کرد. از همین حالا شروع به ساخت مجموعه داده اختصاصی خود از تصاویر سیم‌پیچ و پارامترهای اندازه‌گیری شده کنید؛ آن دارایی داده ارزشمندتر از هر مدل منفردی خواهد بود. در نهایت، با جامعه بینایی کامپیوتر تعامل کنید. تکنیک‌های یادگیری کم‌نمونه و انطباق دامنه، همانطور که در معماری‌های پیشرفته GAN مانند CycleGAN دیده می‌شود، می‌توانند کلیدی برای مقاوم کردن سیستم در برابر تغییرات بصری دنیای واقعی باشند.

در نتیجه، این کار یک گام تحریک‌آمیز و ضروری است. این مسئله شناسایی سیم‌پیچ را حل نمی‌کند، اما آن را به گونه‌ای موفقیت‌آمیز بازتعریف می‌کند که در را برای شتاب‌دهی مبتنی بر داده باز می‌کند. آینده متعلق به روشی نیست که کمترین خطا را در آزمایشگاه دارد، بلکه متعلق به روشی است که سریع‌ترین و ارزان‌ترین پاسخ «به اندازه کافی خوب» را در کف کارخانه ارائه می‌دهد. این مقاله دقیقاً به این سمت اشاره می‌کند.